LED外観検査装置(発光チップ欠損検査)  DTLED−350
   
・目視ではまぶしくて見えない、マルチダイスLEDモジュールのチップ欠損及び低輝度チップを高速ラインセンサーカメラにて検出します。
・LEDモジュールを検査台に載せてスタートボタンを押すだけで簡単に高精度な検査が可能です。UVLEDにも対応しています。
特徴
    
動作画面
・対応ワークサイズ50mmX50mm(客先仕様に対応します。)
・対応可能LEDモジュール(白色他可視色、UV)
・検査時間1SEC/個
・使用カメラ 1024pix ラインセンサーカメラ
・外部入出力 10Base100
・その他 汎用DIOを搭載可能
・使用電源 AC100V(50
Hz/60Hz)
             
   
   
結果画面例
    

このような構造も可能です。

  オプトコム株式会社製