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2008年
セミコンジャパン2008
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日時
2008年12月3日(水)〜5日(金)
場所
幕張メッセ
小間番号:4B-406
(稲畑産業株式会社殿ブース内)
展示品
MEMS検査装置
赤外線顕微鏡IR-1300F